合金分析儀是一種XRF光譜分析技術，可用于確認物質里的特定元素， 同時將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長(λ)及能量(E)確定具體元素，而通過測量相應射線的密度來確定此元素的量。XRF度普術就能測定物質的元素構成。

　　每一個原子都有自己固定數(shù)量的電子(負電微粒)運行在核子周圍的軌道上。而且其電子的數(shù)量等同于核子中的質子(正電微粒)數(shù)量。從元素周期表中的原子數(shù)可以得知質子的數(shù)目。每一個原子數(shù)都對應固定的元素名稱。能量色散X螢光與波長色散X螢光光譜分析技術特別研究與應用了*里層三個電子軌道即K，L，M上的活動情況，其中K軌道*為接近核子，每個電子軌道則對應某元素一個個特定的能量層。

　　在XRF分析法中，從X光發(fā)射管里放射出來的高能初級射線光子會撞擊樣本元素。這些初級光子含有足夠的能量可以將*里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時，原子變成了不穩(wěn)定的離子。由于電子本能會尋求穩(wěn)定，外層L層或M層的電子會進入彌補內層的空間。在這些電子從外層進入內層的過程中，它們會釋放出能量，稱之為二次X射線光子。而整個過程則稱為螢光輻射。每種元素的二次射線都各有特征。而X射線光子螢光輻射產(chǎn)生的能量是由電子轉換過程中內層和外層之間的能量差決定的。特定元素在一定時間內所放射出來的X射線的數(shù)量或者密度，能夠用來衡量這種元素的數(shù)量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時光子密度的分布情況。

　　使用合金分析儀測量涂層的兩大好處：

　　1.準確的厚度測量有助于制造商提供高質量的產(chǎn)品和控制成本。涂層厚度嚴格;涂層太厚會增加制造成本?？蛻暨€可以測量涂層材料，以確保產(chǎn)品涂有正確的涂層和正確的厚度。

　　2.使用快速、高效、無損的手持合金分析儀有助于在生產(chǎn)線和現(xiàn)場提供質量控制。手持合金分析儀可以在10秒內提供測試結果，并且可以通過準直器進行改進。準直器測試可在30秒內完成。手持XRF光譜儀不會損壞被測材料。由于手持合金分析儀體積小、攜帶方便、手持方便，因此可以方便地檢測大樣本，否則必須將其切成小塊才能使用臺式XRF光譜儀進行檢測。