【x射線熒光測厚儀生產(chǎn)廠家】產(chǎn)品介紹

    Thick 8000 x射線熒光測厚儀（國產(chǎn)）是專門針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計的一款新型儀器。主要應(yīng)用于：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測,廣泛應(yīng)用于電子電器、五金工具、開關(guān)、等企業(yè)，天瑞儀器是X射線熒光測厚儀生產(chǎn)廠家，分析儀器上市企業(yè)，產(chǎn)品質(zhì)量和售后服務(wù)。

【x射線熒光測厚儀生產(chǎn)廠家】性能優(yōu)勢

采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度
全自動智能控制方式，一鍵式操作!
開機(jī)自動退出自檢、復(fù)位 精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統(tǒng)
*的圖像識別 
輕松實現(xiàn)深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準(zhǔn)直器，自動切換
雙重保護(hù)措施，實現(xiàn)無縫防撞
開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣 
關(guān)蓋推進(jìn)樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦 
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點 
點擊軟件界面測試按鈕，自動完成測試并顯示測試結(jié)果

【】技術(shù)指標(biāo)

分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U） 
同時檢測元素：zui多24個元素，多達(dá)五層鍍層
檢出限：可達(dá)2ppm，zui薄可測試0.005μm
分析含量：一般為2ppm到99.9% 穩(wěn)定性：可達(dá)0.1%
SDD探測器：分辨率低至135eV
鍍層厚度：一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）重復(fù)性：可達(dá)0.1%
采用*的微孔準(zhǔn)直技術(shù)，zui小孔徑達(dá)0.1mm，zui小光斑達(dá)0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭
準(zhǔn)直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 
Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s zui高速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復(fù)定位精度 ：小于0.1um
操作環(huán)境濕度：≤90%
操作環(huán)境溫度 15℃～30℃

【】測試實例

在保證計數(shù)率的情況下能有效分辨相近元素，大大提高測試穩(wěn)定性、降低檢測限。

11次測量結(jié)果（Au-Cu)的穩(wěn)定性數(shù)據(jù)對比如下：