PCB鍍層厚度熒光光譜儀

更新時(shí)間：2020-04-13

簡要描述：

SUPER XRF 2400PCB鍍層厚度熒光光譜儀是一款功能強(qiáng)大的X熒光光譜儀。它綜合了儀器的常規(guī)測試（普通模式）和*的光路系統(tǒng)測試（超銳模式），普通模式能完成全元素，貴金屬，RoHS，鍍層等常規(guī)測試，超銳模式能對(duì)客戶比較關(guān)心的低含量元素進(jìn)行更精確的測試。主要是使用天瑞儀器*超銳光路系統(tǒng)，降低儀器的背景噪音，提高儀器的檢出能力，從而提高儀器的整體檢測性能。

SUPER XRF 2400PCB鍍層厚度熒光光譜儀——超級(jí)X熒光光譜儀

儀器介紹

SUPER XRF 2400PCB鍍層厚度熒光光譜儀是一款功能強(qiáng)大的X熒光光譜儀。它綜合了儀器的常規(guī)測試(普通模式)和*的光路系統(tǒng)測試 (超銳模式)，普通模式能完成全元素，貴金屬，RoHS，鍍層等常規(guī)測試，超銳模式能對(duì)客戶比較關(guān)心的低含量元素進(jìn)行更精確的測試。主要是使用天瑞儀器*超銳光路系統(tǒng)，降低儀器的背景噪音，提高儀器的檢出能力，從而提高儀器的整體檢測性能。

技術(shù)指標(biāo)

元素分析范圍從鈉（Na）到鈾（U）
可進(jìn)行測試模式之間的轉(zhuǎn)換，提高測試的效率
可對(duì)10個(gè)樣品進(jìn)行自動(dòng)切換測試
一次可同時(shí)分析zui多幾十種元素
分析檢出限zui高可達(dá)0.1ppm
分析含量一般為0.1ppm到99.9％
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回收程序
*工作穩(wěn)定性為0.1％
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源

標(biāo)準(zhǔn)配置

超銳X光源和樣品激發(fā)機(jī)構(gòu)
上蓋電動(dòng)開關(guān)的大容量樣品腔
可自動(dòng)切換的準(zhǔn)直器，濾光片
高清晰CCD攝像頭
SDD探測器
數(shù)字多道采集處理系統(tǒng)
高低壓電源
進(jìn)口400W端窗光管油冷散熱系統(tǒng)，具有自動(dòng)控溫功能
樣品自動(dòng)切換系統(tǒng)
全自動(dòng)真空系統(tǒng)
專業(yè)X熒光分析軟件
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
外觀尺寸： 752（W）x759（L）x 988（H）
樣品腔尺寸：￠376×50 mm
重量：小于250Kg

性能特點(diǎn)

特殊光路系統(tǒng)
采用特殊的光路系統(tǒng)，可滿足不同基體中痕量元素的測量，提高信噪比，降低檢出限。

400W大功率X光源
400W大功率光源使難以激發(fā)的痕量元素獲得更高的計(jì)數(shù)率，比普通EDXRF儀器的元素檢出限降低一個(gè)數(shù)量級(jí)，更加適合痕量元素的檢測。

數(shù)字多道技術(shù)
采用數(shù)字多道技術(shù)，儀器可探測的計(jì)數(shù)率可高至100kcps,提高了儀器的測量精度,縮短了測量時(shí)間。

油冷散熱系統(tǒng)
油冷散熱系統(tǒng)，保證了大功率X光源的散熱，使儀器的運(yùn)行更加穩(wěn)定。

光閘系統(tǒng)
光閘系統(tǒng)，保證X光源的穩(wěn)定性，同時(shí)提升X光管使用壽命。

抽真空系統(tǒng)
抽真空系統(tǒng)，可以滿足輕元素的測量。

自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)
自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)，可以一次連續(xù)檢測十二個(gè)樣品，大大提高了測試人員的工作效率。

SUPER XRF 2400側(cè)試模式

普通模式：為普通儀器的常規(guī)測試。

超銳模式：使用天瑞儀器*超銳光路系統(tǒng)，SUPER XRF 2400使用的原理主要能實(shí)現(xiàn)兩大功能，降低背景，提高檢出能力。

一、如圖一所示，下圖為測土壤中的V（綠）和Cr（紅）。實(shí)譜為超銳模式，測得的譜圖，紅色虛譜為普通模式譜圖。由圖可看出，對(duì)于關(guān)注元素。超銳模式明顯出峰，而普通模式幾乎沒有出峰。

二、下圖二所示，為測土壤中的Zr，實(shí)譜為超銳模式所測譜圖，紅色虛譜為普通模式所測譜圖。超銳模式所測得的Zr有效峰背比強(qiáng)度為210.05。普通模式所測得的Zr在相同測試條件下有效峰背比強(qiáng)度為155.72。由圖可以看出超銳模式比普通模式出峰要好，而且超銳模式降低了背景。

從以上譜圖一可以看出，我們在進(jìn)行常規(guī)測試時(shí)。由于土壤中的V、Cr含量低。是無法檢測出其含量的。譜圖二中，雖然Zr能檢測出峰，但是其背景也比較高，對(duì)測試的結(jié)構(gòu)影響比較大。而在使用天瑞儀器*超銳光路系統(tǒng)，能降低背景，檢測出低含量的元素，提高儀器的檢出能力。從而提高儀器的整體測試效果。