EDX 600 X光膜厚儀測厚儀優(yōu)惠——X熒光光譜儀

EDX600X光膜厚儀測厚儀優(yōu)惠——X熒光光譜儀

EDX600是集天瑞儀器多年貴金屬檢測技術和經驗，以*的產品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來滿足貴金屬成分檢測的需要，人性化的設計，使測試工作更加輕松完成。

EDX600貴金屬檢測儀使用高效而實用的正比計數盒探測器，以實在的價格定位，滿足貴金屬的成分檢測和鍍層厚度測量的要求，且全新的更具有現代感的外形、結構及色彩設計，使儀器操作更人性化、更方便。

性能特點

專業(yè)貴金屬檢測、鍍層厚度檢測。
智能貴金屬檢測軟件，與儀器硬件相得益彰。
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序。

技術指標

元素分析范圍：從鉀（K）到鈾（U）。
測量對象：固體、液體、粉末
分析檢出限可達：ppm。
分析含量一般為：ppm到99.9％。
多次測量重復性可達：0.1％。
*工作穩(wěn)定性為：0.1％。

標準配置

單樣品腔。
正比計數盒探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
外觀尺寸： 430×380×355mm 
樣品腔尺寸：306×260×78mm 
重量：30kg

應用領域

黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
X光膜厚儀測厚儀金屬鍍層的厚度測量和電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業(yè)。