【EDX 9000P型ROHS測(cè)試儀】產(chǎn)品介紹

更準(zhǔn)確的檢測(cè)結(jié)果是天瑞人堅(jiān)持不懈的追求，同時(shí)天瑞人還時(shí)刻牢記為客戶(hù)提供更優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。全新開(kāi)發(fā)研制的EDX 9000P型ROHS測(cè)試儀正是秉承了這一理念。它不僅繼承了天瑞儀器EDX系列準(zhǔn)確、快速、無(wú)損、直觀及環(huán)保五大特點(diǎn)，采用分析儀器行業(yè)*的極速探測(cè)器技術(shù)（X-SDD）可將測(cè)試時(shí)間降低到1秒。同時(shí)EDX 9000P型ROHS測(cè)試儀還采用了天瑞儀器產(chǎn)品精密的定位系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)圖像聯(lián)動(dòng)控制，多點(diǎn)連續(xù)測(cè)試。新增加電動(dòng)開(kāi)發(fā)的樣品腔使操作更加方便，全新設(shè)計(jì)自動(dòng)樣品平臺(tái)讓準(zhǔn)確檢測(cè)得到保證。

【EDX 9000P型ROHS測(cè)試儀】技術(shù)參數(shù)

測(cè)量元素范圍：硫（S）～鈾（U）

測(cè)量時(shí)間：1s或以上

檢出限：分析檢出限可達(dá)2ppm，薄可測(cè)試0.005μm

含量范圍：2ppm～99.9%

管壓：5～50KV

管流：≤1000uA

探測(cè)器：X-SDD探測(cè)器，分辨率可達(dá)125eV

準(zhǔn)直器：8種準(zhǔn)直器自動(dòng)切換

濾光片：4種濾光片自由切換

樣品觀察：高清工業(yè)攝像頭

環(huán)境濕度：≤70%

環(huán)境溫度：15℃～30℃

電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）

【EDX 9000P型ROHS測(cè)試儀】性能優(yōu)勢(shì)

快—1秒鐘出結(jié)果

采用行業(yè)*的極速探測(cè)器技術(shù)——（X-SDD）分辨率至125eV

優(yōu)勢(shì)：探測(cè)面積大（面積達(dá)25mm2）、單位時(shí)間內(nèi)接受信息多、計(jì)數(shù)率高分辨率好，探測(cè)效率更高，探測(cè)信噪比更強(qiáng)，檢出限更低

采用行業(yè)*的數(shù)字多道技術(shù)

優(yōu)勢(shì)：有效提高輸出效率，實(shí)現(xiàn)超高計(jì)數(shù)率，保證采集有效計(jì)數(shù)率可達(dá)1000Wcps

采用大功率X光管及*的準(zhǔn)直濾光系統(tǒng)

優(yōu)勢(shì)：激發(fā)效率更高

光閘系統(tǒng)

優(yōu)勢(shì)：樣品更換無(wú)需關(guān)閉高壓，提高測(cè)試效率與測(cè)試精度

精密的定位系統(tǒng)

超高清晰工業(yè)攝像頭，更清晰的顯示測(cè)試點(diǎn)

多點(diǎn)測(cè)試

2D全自動(dòng)移動(dòng)樣品臺(tái)——可實(shí)現(xiàn)圖像聯(lián)動(dòng)控制，多點(diǎn)連續(xù)測(cè)試

超小樣品檢測(cè)——小可測(cè)到0.2毫米

8種準(zhǔn)直器、4種濾光片快速切換功能，可根據(jù)不同樣品進(jìn)行選擇

準(zhǔn)直器小可達(dá)0.2毫米，針對(duì)超小樣品可準(zhǔn)確聚焦檢測(cè)

人性化的設(shè)計(jì)

更安全：X射線(xiàn)聯(lián)動(dòng)安全裝置——光閘與聯(lián)動(dòng)裝置互動(dòng)；儀器外殼與高壓使能端相聯(lián)動(dòng)

更快捷：多點(diǎn)測(cè)試，點(diǎn)哪測(cè)哪

預(yù)約預(yù)熱：根據(jù)設(shè)定時(shí)間，儀器可定時(shí)開(kāi)始測(cè)試

預(yù)約開(kāi)機(jī)預(yù)熱功能：客戶(hù)可預(yù)約儀器開(kāi)機(jī)時(shí)間，同時(shí)可以?xún)x器預(yù)熱并自動(dòng)檢測(cè)、校正儀器狀態(tài)；同時(shí)可以實(shí)現(xiàn)預(yù)約關(guān)機(jī)，關(guān)機(jī)前可設(shè)定聲光提示

【EDX 9000P型ROHS測(cè)試儀】應(yīng)用領(lǐng)域

EDX9000P型ROHS測(cè)試儀廣泛應(yīng)用于電子電器、五金工具、粉末涂料、PCB線(xiàn)路板、皮革、紡織、醫(yī)療器械等企業(yè)中，同時(shí)可以測(cè)試合金成份和鍍層厚度。